Košík
tovar
(prázdne)
Kontakt
Účet
Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.
prečítať celé
Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.
Skryť popis
- Nakladateľ: John Wiley & Sons Inc
- Kód:
- Rok vydania: 2016
- Jazyk: Angličtina
- Väzba: Hardback
- Počet strán: 296
- Šírka balenia: 23.6 cm
- Výška balenia: 16.1 cm
- Hĺbka balenia: 1.9 cm
- Váha balenia: 500 g
Recenzie