Vyhľadať
Zákaznícka podpora
048/370 00 33
Po-Pia 8:30-15:00
0
Košík
0
tovar
tovar
0,00 €
(prázdne)
Košík je prázdný
Zobrazit košík
Tovar spolu
0,00 €
Bestsellery
Novinky
Cudzojazyčné knihy
Doprava a platba
Kontakt
Účet
MEGA VÝHODNE
Tipy na darčeky
MEGA výpredaj
Všetko do 4,99 €
Výborné ceny
Knihy
Pre deti
Romány • beletria
Detektívky • krimi
Young Adult
Fantasy • scifi
Odborná • náučná
Kuchárky
Komiksy
Motivácia a osobnostný rozvoj
Záľuby
Učebnice
Ezoterika • astrológia
Trilery • horory
Zdravie
Poézia • dráma
Rodina • vzťahy
Motivácia • podnikanie
Všetky kategórie
Nakupte aj
Hračky
Parfumy
Kozmetika
Elektronika
Papiernictvo
Zdravie
Lekáreň
Záhrada
Domácnosť
Potraviny
Ostatné kategórie
•
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
•
Recenzie
. . .
Recenzie Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Ritchie, Nicholas W. M.; Newbury, Dale; Joy, David C.; Michael, Joseph; Goldstein, Joseph; Scott, John Henry
132,09 €
Zobraziť knihu
Podrobnosti
Nakladateľ:
Springer-Verlag New York Inc.
Kód:
Rok vydania:
2017
Jazyk:
Angličtina
Väzba:
Mixed media product
Počet strán:
550
Šírka balenia:
28.4 cm
Výška balenia:
21.7 cm
Hĺbka balenia:
3.6 cm
Váha balenia:
2 kg
Recenzie
0
Overené recenzie sú tak výslovne označené, ostatné sú neoverené.
Nie sú tu žiadne recenzie. Buďte prvý/-á a napíšte tú svoju!
Recenzie