Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy (anglicky)
47,97
€
Cena nižšia o 1 % oproti DMOC
Bežne 48,43 €
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for...
prečítať celé
- Mohlo by Vás taktiež zaujať
- Ďalšie knihy autora
- Ďalší tovar nakladateľa
- Naposledy zobrazené
Podobní autoři
Veľkoobchodná spolupráca
Ak máte zaujímavý sortiment, neváhajte nás osloviť. Ponúkame zaujímavé odbery, rýchle platby a rešpektuplnú spoluprácu.
velkoobchody@megaknihy.sk