Košík
tovar
(prázdne)
Kontakt
Účet
- Nakladateľ: Artech House Publishers
- Kód:
- Rok vydania: 2010
- Jazyk: Angličtina
- Väzba: Microfilm
- Počet strán: 213
- Šírka balenia: 23.5 cm
- Výška balenia: 16.4 cm
- Hĺbka balenia: 1.8 cm
- Váha balenia: 434 g
-
MEGA VÝHODNE
-
Knihy
-
Nakupte aj
Recenzie Wafer-Level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits
Naposledy zobrazené
Recenzie