Conductive Atomic Force Microscopy (anglicky)
130,72
€
Cena nižšia o 5 % oproti DMOC
Bežne 138,10 €
Foreword
Preface
Introduction to CAFM: History, Experimental and Current Status
Reliability of Polycrystalline Thin Oxides and Insulators
Investigation of High-k Dielectric Stacks by TUNA and CAFM: Advantages, Limitations and Applications
3D Tomography for Analyzing Conductive Filaments for...
prečítať celé
- Mohlo by Vás taktiež zaujať
- Ďalšie knihy autora
- Ďalší tovar nakladateľa
- Naposledy zobrazené
Podobní autoři
Veľkoobchodná spolupráca
Ak máte zaujímavý sortiment, neváhajte nás osloviť. Ponúkame zaujímavé odbery, rýchle platby a rešpektuplnú spoluprácu.
velkoobchody@megaknihy.sk