Košík
tovar
(prázdne)
Kontakt
Účet
In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.
prečítať celé
In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.
Skryť popis
- Nakladateľ: Springer Verlag, Japan
- Kód:
- Rok vydania: 2017
- Jazyk: Angličtina
- Väzba: Hardback
- Počet strán: 333
- Šírka balenia: 24.1 cm
- Výška balenia: 16.2 cm
- Hĺbka balenia: 2.7 cm
- Váha balenia: 750 g
Recenzie